UPS電源的EMC性能包括EMI和EMS,EMI要求UPS在正常運(yùn)行過程中對(duì)所在環(huán)境及其它事物(包括設(shè)備和系統(tǒng))產(chǎn)生的電磁干擾不能過一定限值;EMS特性要求UPS系統(tǒng)本身在電磁騷擾情況下運(yùn)行性能要穩(wěn)定,如具有抗雷擊、靜電、振鈴波等干擾的能力。對(duì)于不同的EMC特性,標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試要求不同,須選擇專業(yè)的測(cè)試方案進(jìn)行測(cè)試。
UPS的EMC性能測(cè)試說明
以下僅舉幾個(gè)對(duì)UPS較為典型的EMC性能測(cè)試加以說明。
輻射騷擾檢測(cè)
UPS中有變壓器、電感、開關(guān)管、整流管等非線性器件,由于寄生電容的影響很容易形成共模電流。閉合的電流回路會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),同時(shí)又會(huì)伴隨輻射電場(chǎng)。UPS作為一個(gè)干擾源,工作過程中會(huì)向周圍空間發(fā)射輻射騷擾,UPS中的輻射騷擾會(huì)影響周邊一些高靈敏度的電器正常工作。輻射騷擾試驗(yàn)就是用來評(píng)估其輻射騷擾程度。根據(jù)GB 7260.2-2009/IEC 62040-2:2005等UPS專用標(biāo)準(zhǔn)要求以及GB 4824-2004/CISPR11:2003[2]等基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn),需在30MHz-1GHz頻率范圍內(nèi)測(cè)量UPS空間輻射的電場(chǎng)分量。分別為典型的UPS輻射發(fā)射測(cè)量原理和包括電波暗室在內(nèi)的測(cè)量系統(tǒng),在相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求基礎(chǔ)上,該系統(tǒng)頻率測(cè)量范圍已拓寬至3GHz,以滿足更高的測(cè)試需求。
電源端子傳導(dǎo)騷擾檢測(cè)
UPS工作時(shí)除了通過空間對(duì)周圍環(huán)境產(chǎn)生輻射騷擾,還會(huì)通過電源線向電網(wǎng)產(chǎn)生騷擾。若UPS電源端子存在高幅值的傳導(dǎo)騷擾,可能導(dǎo)致同一電網(wǎng)的計(jì)算機(jī)等信息技術(shù)設(shè)備受到干擾,導(dǎo)致信息設(shè)備數(shù)據(jù)丟失等問題。GB 7260.2-2009/IEC 62040-2:2005[1]和GB/T6113.201-2008/CISPR 16-2-1:2003等標(biāo)準(zhǔn)對(duì)UPS沿著電源線向電網(wǎng)發(fā)射的騷擾電壓的限值和測(cè)量方法做出了明確要求。圖2為杭州遠(yuǎn)方公司根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的測(cè)量用系統(tǒng),測(cè)量在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行,系統(tǒng)主要由人工電源網(wǎng)絡(luò)和EMI接收機(jī)組成,測(cè)量頻率范圍達(dá)到10Hz-30MHz,覆蓋了標(biāo)準(zhǔn)要求的150kHz-30MHz。
UPS電源端子傳導(dǎo)騷擾測(cè)量系統(tǒng)
輻射抗擾度檢測(cè)
電磁輻射現(xiàn)象無所不在,如無線電臺(tái)、移動(dòng)無線電發(fā)射機(jī)及各種工業(yè)電磁輻射源,甚至熒光燈具在工作時(shí)都會(huì)產(chǎn)生電磁輻射。這些輻射將對(duì)工作中的UPS產(chǎn)生影響,嚴(yán)重時(shí)將導(dǎo)致UPS出現(xiàn)故障或性能受損。電磁場(chǎng)輻射抗擾度試驗(yàn)就是用來評(píng)估受試設(shè)備對(duì)來自空間的輻射電磁場(chǎng)抗擾度,GB/T 17626.3-2006/IEC61000-4-3:2006[4]和GB 7260.2-2009/IEC 62040-2:2005[1]等標(biāo)準(zhǔn)明確UPS對(duì)周圍輻射干擾低抗擾度要求、測(cè)試方法和設(shè)備要求。分別為典型的輻射抗擾度測(cè)量原理和測(cè)試用系統(tǒng),可完全滿足上述基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)和UPS專用標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試要求。
靜電放電抗擾度檢測(cè)
靜電放電試驗(yàn)?zāi)M了操作人員直接觸摸UPS時(shí)對(duì)設(shè)備的放電以及放電對(duì)設(shè)備工作的影響,或操作人員在觸摸鄰近設(shè)備時(shí)對(duì)所關(guān)心設(shè)備的影響。累計(jì)的靜電電荷會(huì)產(chǎn)生高達(dá)幾千伏的電壓,一方面會(huì)引起UPS中半導(dǎo)體等器件的損壞,造成設(shè)備長(zhǎng)久性失效,也會(huì)引起UPS近場(chǎng)電磁場(chǎng)變化,造成設(shè)備的誤動(dòng)作。圖4為杭州遠(yuǎn)方公司根據(jù)GB/T 17626.2-2006/IEC61000-4-2:2008[5]和GB 7260.2-2009/IEC 62040-2:2005[1]等標(biāo)準(zhǔn)要求設(shè)計(jì)的EMS61000-2A UPS靜電放電測(cè)試系統(tǒng),較高靜電電壓可達(dá)30kV,涵蓋標(biāo)準(zhǔn)4kV接觸放電、8kV空氣放電測(cè)試要求。